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智能手机插拔寿命测试标准
发布时间:2024-03-13        浏览次数:10        返回列表
智能手机插拔寿命测试标准

按键寿命测试可对手机、MP3、电脑、电子词典按键、摇控器按键、硅橡胶按键、硅胶制品等做寿命测试,适用于检测按键开关、轻触开关、薄膜开关等各类按键进行寿命试验。试验模拟消费者使用产

品,产品的部件及功能的承受能力。

按键寿命测试

模拟消费者在长期使用产品的按键,按键的耐久性能。

参数

测试频率:0~600次/min(MAX)

测试力范围:0~1.2kgf

测试头规格:直径6mm和12mm

硬度邵A-50

振台尺寸(英寸):L48xW48

挤压寿命测试

笔记本、电子书和平板电脑等产品各部分承受压力的**受力模拟,验证产品的抗压耐久性能。

压力范围:0~100kgf

测试位移:0~150mm

测试速度:0~52mm/s

扭矩寿命测试

电子书和平板电脑等产品承受扭转外力的**扭矩模拟,验证产品的抗扭性能。

扭矩范围:500kgf?cm

测试角度:0~60度

激活

转到”

测试速度:0~360度/秒


核心提示:检测认证可靠性,堆码测试 寿命试验,振动跌落拉伸,智能手机 插拔寿命,耐摩擦 插拔测试
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